探针有哪些种类？可以运用在什么地方？

探针种类有很多，有医疗类，气象类，地理类等等，这些都是电子成品为主，下面讲一下测试类电子电路类。
测试类电子电路主要有射频针，BGA，ATE，FCT以及MDA/ICT等等，主要是应用在MDA/ICT/Function等相关主板检测治具，可在生产过程中将不良主板检测出来。
射频就是射频电流，是一种高频交流变化电磁波的简称，对于GSM、WCDMA、CDMA2000及蓝牙（bluetooth）、wifi、wimax等的测试统属于RF测试，多为无线通讯。
BGA是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板（PCB）互接。用LH（台湾錂鋐）半导体探针或模组来检测读写程式设计。
ATE通常为流线测试设备，测试于半导体产业意指积体电路（IC）自动测试机，用于检测积体电路功能之完整性，为积体电路生产制造之最后流程，以确保积体电路生产制造之品质。
FCT就是功能测试，在ICT测试OK后，就可以进行功能测试，看PCBA是否工作正常，达到设计的功能。主要用于被测物的转接后测试，简化人工插拔的动作，提升生产效率。
ICT/MDA主要用于被测物的测贴透过探针转接后测试，可体测项目如：检测Open.short，电阻阻值量测，电容容值量测，电感感量量测，二极体量测，电晶体量测，电压量测，IC量测，路线量测等检测。

探针有pogo pin探针模组和blade pin弹片微针模组两种，都是应用于3C锂电池、LCD、OLED屏幕、手机摄像头测试的测试连接模组。在测试中都能起到传送信号和导通电流的作用。pogo pin探针模组和blade pin弹片微针模组的区别在于：pogo pin探针模组的使用寿命短，可过电流较小，blade pin弹片微针模组的使用寿命长，平均在20w次左右，可过电流大，能通过高达50A的电流，性能和表现力要好。