实测剖面的技术要求

为保证实测剖面的质量，实测剖面线方位应尽可能垂直地层走向或主要构造线走向，其间的夹角一般不应小于60°。剖面线通过处基岩露头良好，可利用河谷的自然切面或铁路、公路、壕沟等人工露头。覆盖地段可于相邻处补测辅助短剖面，借助标志层与主剖面进行层位对比。若覆盖过宽，且岩性变化、产状及接触关系不清时，可使用探槽、井探及剥土予以揭露。产状平缓的地层剖面可选在沟谷边缘，条件允许时可直接测制地层柱状图，并尽量收集钻探资料，以了解隐伏地层层位。剖面比例尺根据规范要求和剖面地质情况而定，以能充分反映最小地层单位、岩石单位为原则。常用比例尺1∶500～1∶5000。凡在图上可表示1 mm的岩层或地质体均应单独划出，有特殊意义的层位（标志层、含矿层、岩脉等）可适当放大表示，在文字记录中注明其真实厚度。实测剖面应进行认真系统的地质观察（观察内容及要求见下文），系统采集代表性岩石手标本、磨制薄片标本、光谱分析样品，逐层寻找化石（包括遗迹化石），采集微体古生物样品等。根据任务需要还可采集化学分析样、人工重砂样、碳氧硫同位素样、同位素年龄样、古地磁测定样等。如有物探工作配合，可系统测定岩石物性参数，如放射性强度、磁化率、电阻率及密度等。