谢乐公式：
(K为Scherrer常数、D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B为实测样品衍射峰半高宽度、θ为衍射角、γ为X射线波长，为0.154056 nm)。
K可以查得到，直接将上述参数代入公式，即可以计算出晶粒的厚度。
